วว./บริษัท เครส นาโนโซลูชั่น (ประเทศไทย) จำกัด จัดสัมมนาวิชาการ “การวิเคราะห์และทดสอบพื้นผิวระดับไมโครของวัสดุวิศวกรรม”

ทั้งนี้ การสัมมนาดังกล่าวมีวัตถุประสงค์เพื่อเพิ่มพูนความรู้ความเข้าใจในวิธีการวิเคราะห์และทดสอบพื้นผิวของวัสดุวิศวกรรม สร้างความรู้และเข้าใจในศาสตร์ของวิธีการวิเคราะห์และทดสอบ รวมทั้งการนำไปใช้งานและนำความรู้ที่ได้ไปประยุกต์ใช้เพื่อช่วยชะลอการเสื่อมสภาพ ยืดอายุการใช้งานหรือลดอัตราการสึกหรอของชิ้นส่วน เครื่องมือและเครื่องจักรที่รองรับการเสียดสีซึ่งใช้งานอยู่ได้เป็นอย่างดี พร้อมทั้งรับฟังความเห็นและข้อเสนอแนะจากผู้เข้าร่วมประชุม ซึ่งประกอบด้วย บริษัทเอกชนต่างๆ ผู้เกี่ยวข้องและผู้สนใจ จำนวนมากกว่า 100 คน รวมทั้งมีการบรรยายเรื่อง "การทดสอบสภาพพื้นผิวระดับไมโคร ของวัสดุวิศวกรรมด้วยวิธีวัดพื้นผิว ด้วยกำลังขยายสูง" โดยได้รับเกียรติจากวิทยากร ได้แก่ Mr. Wei Yue Teng Application Scientist Specialised in Machanical Testing and Optical Metrology และ Mr. Li Yang Regional Sales Manager Sea "การวิเคราะห์สภาพผิวระดับไมโคร ของวัสดุวิศวกรรม ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน และวิเคราะห์ธาตุแบบตั้งโต๊ะ" โดยคุณ ฉัตรนภา อินทานนท์ Product Specialist และ "ปัญหาและความสำคัญ ของสภาพพื้นผิวของวัสดุวิศวกรรม" โดย ดร.ดวงพร อุนพานิช นักวิชาการอาวุโส วว. ซึ่งองค์ความรู้ดังกล่าว จะช่วยก่อให้เกิดการลดความเสียหายของชิ้นส่วนเครื่องจักรที่อยู่ในกระบวนการผลิตยกระดับความปลอดภัยในอุตสาหกรรมต่อไป